集成芯片测试系统设计

摘 要
80年代单片机进入我国，当时较有影响的是INTEL的NCS-48系列和Zilog公司的Z80系列，20多年来单片机获得了飞速的发展，现在单片机已经渗入到工农业生产，国防军事，教育科研等诸多领域，已经形成了计算机领域的一个重要分支。而大型集成电路测试系统项目采用90年代国际先进的管脚定时事件驱动结构，建立了良好的技术平台及相应的支持软件，从而填补国内40MHz大型通用数字测试系统的空白，起主要技术达到了国际上正在使用的40MHz大型通用数字测试系统先进技术水平。该测试系统中周期子系统、周道子系统、测试台子系统和软件子系统的研制开发具有我国独立自主的版权。在完成大型测试系统攻关中，定时事件驱动结构技术、高通道控制技术、高速图形产生等十几项技术及工艺达到国际90年代同类技术先进水平。有关专家认为：这一测试系统的研制成功，为解决我国集成电路发展的测试瓶颈问题奠定了技术基础。

关键词：（74LS00/74LS02/74LS04/74LS08/74LS10）集成芯片测试 8255A并行接口
目 录
第一节 引言 4
第二节 系统软件概述 6
第三节 编程环境 6
一、硬件环境 6
二、软件环境 6
第四节 接口芯片功能 6
一、8255A引脚功能 7
二、8255A工作方式 8
第五节 系统测试流程图 9
第六节 系统实现功能 11
一、74LS02逻辑功能仿真测试 11
二、74LS04逻辑功能仿真测试 13
三、74LS08逻辑功能仿真测试 16
四、74LS10逻辑功能仿真测试 18
五、调用键盘显示 21
参考文献 25